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從設(shè)備選擇到數(shù)據(jù)解讀 | 無鉛焊點(diǎn)推力測試全面解析

 更新時(shí)間:2024-12-30 點(diǎn)擊量:156

最近,有不少半導(dǎo)體行業(yè)的朋友向小編咨詢,如何利用推拉力測試機(jī)進(jìn)行PCBA無鉛焊點(diǎn)的推拉力測試。隨著電子產(chǎn)品向小型化、高集成化和多功能化的方向發(fā)展,焊點(diǎn)的可靠性變得越來越重要。無鉛焊點(diǎn)作為環(huán)保要求下的產(chǎn)物,其可靠性問題成為研究的熱點(diǎn)。本文科準(zhǔn)測控小編將探討PCBA無鉛焊點(diǎn)的推拉力測試,這是評估焊點(diǎn)可靠性的重要手段之一。

無鉛焊點(diǎn)的重要性

無鉛焊點(diǎn)由于不含鉛,對環(huán)境更為友好,但其熔點(diǎn)較高,潤濕性較差,這可能導(dǎo)致焊點(diǎn)的可靠性問題。因此,對無鉛焊點(diǎn)進(jìn)行推拉力測試,可以模擬焊點(diǎn)的機(jī)械失效模式,分析焊點(diǎn)或器件的失效原因,評估組件的可靠性。

一、推拉力測試的目的和標(biāo)準(zhǔn)

推拉力測試用于驗(yàn)證印刷電路板上BGA錫球及小型貼片零件的推力測試,QFP引腳的拉力測試。測試標(biāo)準(zhǔn)包括JEDEC JESD22-B117A Solder Ball Shear錫球剪切力測試標(biāo)準(zhǔn)和JISZ 3198-6-2003無鉛焊劑的試驗(yàn)方法。

相關(guān)元器件推力測試要求如下:

不同元器件的推拉力標(biāo)準(zhǔn)不同,例如CHIP0402的推力標(biāo)準(zhǔn)為≥0.65Kgf,CHIP0603≥1.2KgfCHIP0805≥2.30Kgf,CHIP1206≥3.00Kgf,SIM卡連接器為≥1.0Kgf,SOT23≥6.00Kgf,T-Flash卡座為≥5.5Kgf。

二、相關(guān)測試設(shè)備

1、Beta S100 推拉力測試機(jī)

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1)設(shè)備概述

a、多功能焊接強(qiáng)度測試儀是一種專為微電子領(lǐng)域設(shè)計(jì)的動態(tài)測試設(shè)備,用于評估引線鍵合后的焊接強(qiáng)度、焊點(diǎn)與基板的粘接強(qiáng)度以及進(jìn)行失效分析。該儀器能夠執(zhí)行多種測試,如晶片推力測試、金球推力測試和金線拉力測試,配備有高速力值采集系統(tǒng),以確保測試的精確性。

b、用戶可以根據(jù)具體的測試需求更換相應(yīng)的測試模塊,系統(tǒng)將自動識別并調(diào)整到合適的量程。這種靈活性使得設(shè)備能夠適應(yīng)不同產(chǎn)品的測試需求。每個測試工位都設(shè)有獨(dú)立安全高度和速度限制,以防止因誤操作而損壞測試探頭。該系統(tǒng)以快速、精確和廣泛的適用性為特點(diǎn)。

c、該測試儀廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體集成電路封裝測試、LED封裝測試、光電器件封裝測試、PCBA電子組裝測試,以及汽車電子、航空航天和軍事等領(lǐng)域。同時(shí),它也適用于電子分析和研究單位進(jìn)行失效分析,以及教育機(jī)構(gòu)的教學(xué)和研究活動。

d、為了滿足廣泛的客戶需求,我們提供了一系列可選的測量夾具,這些夾具易于安裝和拆卸,并且可以360度旋轉(zhuǎn),以適應(yīng)不同角度的測試需求。此外,設(shè)備配備了左右兩側(cè)的搖桿,使得機(jī)器操作和軟件控制更加便捷。

2)設(shè)備特點(diǎn)

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三、測試流程

步驟一:測試準(zhǔn)備

a、選擇合適的傳感器及推刀

根據(jù)測試要求和樣品的特性,選擇合適的傳感器和推刀。傳感器的量程應(yīng)能夠覆蓋預(yù)期的最大推拉力值。

b、設(shè)置測試參數(shù)

在剪切力拉力測試儀上設(shè)置必要的測試參數(shù),包括測試速度、力值范圍、測試模式(推力或拉力)等。

c、固定樣品

PCBA樣品固定于剪切力拉力測試儀的測試臺上,確保樣品穩(wěn)定且不會在測試過程中移動。

d、調(diào)整推刀位置

轉(zhuǎn)動和移動樣品臺,使推刀與固定芯片的管座或基板基座近似垂直。確保施力方向與管座或基板平面平行,并與被試驗(yàn)的器件的施加應(yīng)力面垂直。

e、緊固樣品臺

在調(diào)整好推刀位置后,緊固樣品臺,確保在施加推力時(shí)樣品不會發(fā)生位移。

f、施加推力并記錄數(shù)據(jù)

對焊點(diǎn)施加推力,記錄焊點(diǎn)從固定位置上剪切下來的力值。這一步驟是測試的關(guān)鍵,需要精確控制和記錄。

g、結(jié)果評定(如有需要)

在測試完成后,根據(jù)記錄的數(shù)據(jù)進(jìn)行結(jié)果評定。這可能包括與標(biāo)準(zhǔn)值的比較,或是對測試結(jié)果的統(tǒng)計(jì)分析。

步驟二:測試結(jié)果分析

a、失效判據(jù)

確定焊點(diǎn)是否失效的依據(jù)是施加的外力是否小于旨定試驗(yàn)條件、組成和結(jié)構(gòu)所要求的最小焊點(diǎn)強(qiáng)度。如果焊點(diǎn)在達(dá)到這一最小強(qiáng)度前發(fā)生分離,則判定為失效。

b、記錄剪切力值

在測試過程中,詳細(xì)記錄剪切力值。這些數(shù)據(jù)對于后續(xù)分析焊點(diǎn)的強(qiáng)度和可靠性至關(guān)重要。

c、觀察失效界面

在記錄剪切力值的同時(shí),觀察焊點(diǎn)破壞的失效界面。這有助于理解焊點(diǎn)失效的原因,并對測試結(jié)果進(jìn)行更準(zhǔn)確的解釋。

d、數(shù)據(jù)分析

對收集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,包括計(jì)算平均值、標(biāo)準(zhǔn)差等統(tǒng)計(jì)參數(shù),以及進(jìn)行任何必要的比較分析。

e、編制詳細(xì)的測試報(bào)告,包括測試條件、測試結(jié)果、數(shù)據(jù)分析和結(jié)論。確保報(bào)告準(zhǔn)確、完整,并且具有可追溯性。

 

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