近期,小編接到了不少來自半導體行業(yè)的朋友們的咨詢,他們對于推拉力測試機的使用方法、作業(yè)指導書以及具體的操作步驟表現(xiàn)出了濃厚的興趣。為了滿足這些需求,本文將詳細介紹推拉力測試機的使用指南。
在現(xiàn)代半導體封裝行業(yè)中,隨著技術的不斷進步和產(chǎn)品性能要求的日益提高,對電子組件的可靠性測試也提出了更高的標準。電子組件在焊接、運輸和使用過程中,可能會遭受氧化腐蝕、振動、沖擊、應力彎曲變形等不利因素的影響,這些因素可能導致焊點或器件的失效,進而影響整個產(chǎn)品或系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。因此,對半導體芯片封裝進行推拉力驗證和失效分析成為了確保產(chǎn)品質(zhì)量的關鍵步驟。
本文科準測控小編將詳細介紹推拉力測試機的使用方法和操作圖解,包括設備的檢查、模塊裝配、推刀(或鉤針)的裝配與校準、夾具定位與固定、測試參數(shù)的設定、測試執(zhí)行以及結果的觀察與分析等關鍵步驟。通過對這些操作步驟的深入了解,用戶將能夠更加熟練地運用推拉力測試機,為半導體封裝產(chǎn)品的可靠性驗證提供強有力的技術支持。
一、什么要用推拉力測試機進行測試?
1、推拉力測試機作為一種專業(yè)的測試設備,它能夠對鍵合點進行精確的測試驗證,評估封裝產(chǎn)品是否達到了設計和使用要求,從而提高產(chǎn)品的可靠性。
2、通過模擬實際使用中的各種應力條件,推拉力測試機能夠預測和識別潛在的失效模式,為產(chǎn)品的持續(xù)改進和優(yōu)化提供科學依據(jù)。
3、具有功能強大、?配置靈活、可靠性高的優(yōu)點,專注于剪切力和拉拔力檢驗檢測,?被廣泛應用于光通信、貼片電子制造、?材料科學、?機械工程、半導體封裝等領域。
二、工作原理
通過施加一定的推力或拉力于測試樣品,并測量該力對樣品造成的位移、形變或破壞,從而確定該樣品的強度和耐久性。通過對這些數(shù)據(jù)的分析,可以得出材料的推拉強度、韌性、彈性等重要的力學參數(shù)?。
三、常用測試標準
芯片剪切力(DIE SHEAR) | MIL STO 883 |
金球剪切力(AU BALL SHEAR) | JEDEC JESD22-B116 |
拉線(WIRE PULL) | DT/NDT MIL STD 883 |
平拔拉力(STUD PULL) | MIL STD 883 |
倒裝芯片拉力(FLIPCHIPPULL) | JEDEC JESD22-B109 |
冷/熱焊凸塊拉力(CBP/HBP) | JEITA EIAJ ET-7407 |
BGA銅柱剪切力(BGA BUMP SHEAR) | JEDEC JESD22-8117A |
冷拔球 | JESD22-B115 |
四、應用領域
推拉力測試機能夠適應多種封裝形式,如QFN、BGA、CSP和TSOP等,滿足不同封裝件的測試需求。該設備支持多種測試模式,包括靜態(tài)和動態(tài)的拉力測試以及推力測試,以適應不同的測試場景。除此之外,推拉力測試機的應用范圍不僅限于半導體封裝,還擴展到了LED封裝、光電子器件封裝、PCBA電子組裝、汽車電子和航空航天等多個行業(yè)。
五、產(chǎn)品特點
1、高精度
采用先進的傳感技術,確保了在進行拉伸、推力或彎曲測試時的高度精確性。全量程采用自主研發(fā)高精度 (24Bit 超高分辨率 ) 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),測試數(shù)據(jù)更加精準;
2、多功能
六、使用方法
步驟1、設備與配件檢查
檢查半導體推拉力測試機及其所有配件,確保設備完整且功能正常。
確認測試機、推刀(或鉤針)和夾具等關鍵部件均已完成校準,以確保測試結果的精確性。
步驟2、模塊安裝與電源連接
將待測試的模塊正確安裝到推拉力測試機上。
連接電源,并啟動測試機,等待系統(tǒng)自檢和模塊初始化完成。
檢查所有指示燈和顯示屏是否正常工作,確保系統(tǒng)準備就緒。
步驟3、推刀(或鉤針)的安裝與校準
根據(jù)測試的具體需求,選擇適合的推刀。
將推刀安裝到推拉力測試機的旨定位置,并進行牢固鎖定,以保證測試的精確度。
步驟4:測試夾具固定
將電子元器件精確地放置在測試夾具中,并確保其位置正確。
將夾具安裝到測試機的工作臺上,并使用固定螺絲將其緊固,模擬實際使用中的固定狀態(tài)。
步驟5、測試參數(shù)的設定
在測試機的軟件界面上輸入必要的測試參數(shù),包括但不限于測試方法、傳感器選擇、測試速度、目標力值、剪切高度和測試次數(shù)。
完成參數(shù)設置后,保存并應用這些參數(shù),確保測試能夠按照預定條件執(zhí)行。
步驟6、測試執(zhí)行
在顯微鏡下確認電子元器件和推刀(或鉤針)的相對位置正確無誤。
啟動測試程序,密切監(jiān)視測試過程中的動作,確保一切按照設定的參數(shù)進行。
如遇任何異常情況,立即停止測試以避免進一步的損壞。
步驟7、結果觀察與分析
測試完成后,對電子元器件的破壞情況進行觀察,并進行失效分析。
根據(jù)測試結果,對測試參數(shù)進行必要的調(diào)整,并重新執(zhí)行測試以驗證改進措施的效果。
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